Исследование электронных свойств поверхности и внутренних границ раздела эпитаксиальных слоев GaAs методом спектроскопии фотоотражения: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / Шайблер Генрих Эрнстович
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Шайблер, Г. Э. |
Опубликовано: | Новосибирск , 2001 |
Физические характеристики: |
18 с.
|
Язык: | Русский |
Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|