Исследование электронных свойств поверхности и внутренних границ раздела эпитаксиальных слоев GaAs методом спектроскопии фотоотражения: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / Шайблер Генрих Эрнстович
Zapisane w:
| Format: | |
|---|---|
| 1. autor: | Шайблер, Г. Э. |
| Wydane: | Новосибирск , 2001 |
| Opis fizyczny: |
18 с.
|
| Język: | Русский |
| Hasła przedmiotowe: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Dostępne Zamów | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||