Исследование электронных свойств поверхности и внутренних границ раздела эпитаксиальных слоев GaAs методом спектроскопии фотоотражения: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / Шайблер Генрих Эрнстович
Gespeichert in:
| Format: | |
|---|---|
| 1. Verfasser: | Шайблер, Г. Э. |
| Veröffentlicht: | Новосибирск , 2001 |
| Beschreibung: |
18 с.
|
| Sprache: | Русский |
| Schlagworte: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Verfügbar Bestellen | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||