Исследование электронных свойств поверхности и внутренних границ раздела эпитаксиальных слоев GaAs методом спектроскопии фотоотражения: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / Шайблер Генрих Эрнстович
Enregistré dans:
| Format: | |
|---|---|
| Auteur principal: | Шайблер, Г. Э. |
| Publié: | Новосибирск , 2001 |
| Description matérielle: |
18 с.
|
| Langue: | Русский |
| Sujets: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Disponible Réserver | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||