Образование и отжиг дефектов при бомбардировке полупроводников ионами; вторично-эмиссионные методы исследования [[Микроформа]]: Дис. ... д-ра физ.-мат. наук: Утв. 04.05.90: (01.04.04)
Gespeichert in:
| Format: | |
|---|---|
| 1. Verfasser: | Титов, А. И. |
| Veröffentlicht: | Л. , 1989 |
| Beschreibung: |
402 с. : ил.
|
| Sprache: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Verfügbar Bestellen | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||