Образование и отжиг дефектов при бомбардировке полупроводников ионами; вторично-эмиссионные методы исследования [[Микроформа]]: Дис. ... д-ра физ.-мат. наук: Утв. 04.05.90: (01.04.04)
Захавана ў:
| Тып дакумента: | |
|---|---|
| Аўтар: | Титов, А. И. |
| Апублікавана: | Л. , 1989 |
| Фізіч. характарыстыкі: |
402 с. : ил.
|
| Мова: | Руская |
ОФХ отдела книгохранения
| Усяго : 1 , даступна: 1 | Даступна Замовіць | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||