Электронографическое исследование систем Cu-Te и Ni-In в тонких пленках: (057): Автореферат дисс. на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук / АН СССР. Ин-т кристаллографии
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Баранова, Р. В. |
| Опубликовано: | М. , 1968 |
| Физические характеристики: |
28 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr36850140000 | ||
| 005 | 20070828150549.0 | ||
| 021 | # | # | $a RU $b [68-68042] |
| 100 | # | # | $a 20070828d1968 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Электронографическое исследование систем Cu-Te и Ni-In в тонких пленках $e (057) $e Автореферат дисс. на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук $f АН СССР. Ин-т кристаллографии |
| 210 | # | # | $a М. $d 1968 |
| 215 | # | # | $a 28 с. |
| 686 | # | # | $a 057 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Баранова $b Р. В. |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070828 $g psbo |