Электронографическое исследование систем Cu-Te и Ni-In в тонких пленках: (057): Автореферат дисс. на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук / АН СССР. Ин-т кристаллографии
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Баранова, Р. В. |
Опубликовано: | М. , 1968 |
Физические характеристики: |
28 с.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|