Разработка объективных методов оценки качества микрооптики: (044): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук / Гос. опт. ин-т им. С. И. Вавилова
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Ларина, Р. М. |
| Опубликовано: | Л. , 1972 |
| Физические характеристики: |
21 с. : черт.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||