Разработка объективных методов оценки качества микрооптики: (044): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук / Гос. опт. ин-т им. С. И. Вавилова
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Ларина, Р. М. |
| Опубликовано: | Л. , 1972 |
| Физические характеристики: |
21 с. : черт.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr13954290000 | ||
| 005 | 20070313150621.0 | ||
| 021 | # | # | $a RU $b [72-19626а] |
| 100 | # | # | $a 20070313d1972 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Разработка объективных методов оценки качества микрооптики $e (044) $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук $f Гос. опт. ин-т им. С. И. Вавилова |
| 210 | # | # | $a Л. $d 1972 |
| 215 | # | # | $a 21 с. $c черт. |
| 300 | # | # | $a Список работ авт. в конце текста (6 назв.) |
| 686 | # | # | $a 044 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Ларина $b Р. М. |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070313 $g psbo |