Современные методы исследования наноструктур: метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии: учебное пособие / С. И. Валянский, Е. К. Наими
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Валянский, С. И. (род. 1949) |
| Опубликовано: | Москва : Издательский дом МИСиС , 2011 |
| Физические характеристики: |
172 с. : ил., табл., схемы ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС"
№ 2055 |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||