Электронно-микроскопическое исследование дислокаций в полупроводниковых кристаллах на основе динамических дифракционных эффектов [[Микроформа]]: Дис. ... канд. физ.-мат. наук: Утв. 05.08.87: (01.04.07)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Рувимов, С. С. |
| Опубликовано: | Л. , 1986 |
| Физические характеристики: |
210 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||