Развитие метода трехкристальной рентгеновской дифрактометрии для анализа структуры приповерхностных слоев совершенных монокристаллов [[Микроформа]]: Дис. ... канд. физ.-мат. наук: Утв. 05.08.87: (01.04.18)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Ломов, А. А. |
| Опубликовано: | М. , 1987 |
| Физические характеристики: |
131 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||