Количественная рентгенотопография дефектов и дифрактометрия многослойных эпитаксиальных систем полупроводников A³ B⁵, A² B⁶ и твердых растворов на их основе [[Микроформа]]: Дис. ... д-ра физ.-мат. наук: (01.04.10)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Кузнецов, Г. Ф. |
| Опубликовано: | М. , 1990 |
| Физические характеристики: |
466 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||