Измерение оптических постоянных и дифференциальная спектроскопия тонких пленок Na₂KSb(Cs), Cs₃Sb и GaSe [[Микроформа]]: Дис. ... канд. физ.-мат. наук: Утв. 22.11.89: (01.04.04)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Кауфман, И. Х. |
| Опубликовано: | М. , 1989 |
| Физические характеристики: |
187 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||