Расчет электронных энергий и комптоновских профилей кристаллов алмаза, кремния и бериллия методом матрицы плотности по рентгеновским дифракционным данным [[Микроформа]]: Дис. ... канд. физ.-мат. наук: Утв. 01.11.88: (01.04.07)
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Александров, Ю. В. |
Опубликовано: | М. , 1987 |
Физические характеристики: |
126 с. : ил.
|
Язык: | Русский |
00000nbm0a22000001id4500 | |||
001 | BY-NLB-rr40955060000 | ||
005 | 20080219114950.0 | ||
100 | # | # | $a 20080219d1987 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Расчет электронных энергий и комптоновских профилей кристаллов алмаза, кремния и бериллия методом матрицы плотности по рентгеновским дифракционным данным $b [Микроформа] $e Дис. ... канд. физ.-мат. наук $e Утв. 01.11.88 $e (01.04.07) |
210 | # | # | $a М. $d 1987 |
215 | # | # | $a 126 с. $c ил. |
300 | # | # | $a Библиогр.: с. 113-126 |
686 | # | # | $a 01.04.07 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Александров $b Ю. В. $g Юрий Владимирович |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20080219 $g psbo |