Расчет электронных энергий и комптоновских профилей кристаллов алмаза, кремния и бериллия методом матрицы плотности по рентгеновским дифракционным данным [[Микроформа]]: Дис. ... канд. физ.-мат. наук: Утв. 01.11.88: (01.04.07)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Александров, Ю. В. |
| Опубликовано: | М. , 1987 |
| Физические характеристики: |
126 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||