ЭВМ и моделирование дефектов в кристаллах: Темат. сборник / АН СССР. Физ.-техн. ин-т. им. А. Ф. Иоффе

Сохранено в:
Шифр документа: 48672,
Вид документа: Книги
Опубликовано: Л. , 1982
Физические характеристики: 218 с.
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr40680860000
005 20141212105356.0
010 # # $d 1 р. 
100 # # $a 20080117d1982 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a ЭВМ и моделирование дефектов в кристаллах  $e Темат. сборник  $f АН СССР. Физ.-техн. ин-т. им. А. Ф. Иоффе 
210 # # $a Л.  $d 1982 
215 # # $a 218 с. 
345 # # $9 500 экз. 
610 0 # $a Кристаллы - Дефекты 
675 # # $a 548.4:681.3 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20080117  $g psbo