ЭВМ и моделирование дефектов в кристаллах: Темат. сборник / АН СССР. Физ.-техн. ин-т. им. А. Ф. Иоффе
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | Л. , 1982 |
| Физические характеристики: |
218 с.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||