III конференция "Полевая ионная микроскопия и ее применение в промышленности": Тез. докл., 23-25 февр.
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | "Полевая ионная микроскопия и ее применение в промышленности", конф., 3-я. Свердловск 1982 |
| Опубликовано: | Свердловск , 1982 |
| Физические характеристики: |
38 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||