![](/themes/root/images/default-cover.png)
Методы измерения электрофизических параметров полупроводников: (Методы измерения рекомбинац. параметров) : [Учеб. пособие] / Моск. ин-т электрон. машиностроения
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Вильф, Ф. Ж. |
Опубликовано: | М. : МИЭМ , 1986 |
Физические характеристики: |
106 с. : ил. ; 21 см
|
Язык: | Русский |
Предмет: |
00000cam0a22000001ib4500 | |||
001 | BY-NLB-rr38709580000 | ||
005 | 20170825112643.0 | ||
010 | # | # | $d 20 к. |
021 | # | # | $a RU $b [86-101080] |
100 | # | # | $a 20071022d1986 y0rusy50 ||||ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Методы измерения электрофизических параметров полупроводников $e (Методы измерения рекомбинац. параметров) : [Учеб. пособие] $f Моск. ин-т электрон. машиностроения |
210 | # | # | $a М. $c МИЭМ $d 1986 |
215 | # | # | $a 106 с. $c ил. $d 21 см |
345 | # | # | $9 600 экз. |
610 | 0 | # | $a Полупроводники - Электрические свойства - Измерение |
675 | # | # | $a 537.311.322.08(075.8) |
700 | # | 1 | $a Вильф $b Ф. Ж. $g Фернандо Жозевич |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20071022 $g psbo |