Методы измерения электрофизических параметров полупроводников: (Методы измерения рекомбинац. параметров) : [Учеб. пособие] / Моск. ин-т электрон. машиностроения

Сохранено в:
Шифр документа: 178855,
Вид документа: Книги
Автор: Вильф, Ф. Ж.
Опубликовано: М. : МИЭМ , 1986
Физические характеристики: 106 с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr38709580000
005 20170825112643.0
010 # # $d 20 к. 
021 # # $a RU  $b [86-101080] 
100 # # $a 20071022d1986 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Методы измерения электрофизических параметров полупроводников  $e (Методы измерения рекомбинац. параметров) : [Учеб. пособие]  $f Моск. ин-т электрон. машиностроения 
210 # # $a М.  $c МИЭМ  $d 1986 
215 # # $a 106 с.  $c ил.  $d 21 см 
345 # # $9 600 экз. 
610 0 # $a Полупроводники - Электрические свойства - Измерение 
675 # # $a 537.311.322.08(075.8) 
700 # 1 $a Вильф  $b Ф. Ж.  $g Фернандо Жозевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071022  $g psbo