Методы измерения электрофизических параметров полупроводников: (Методы измерения рекомбинац. параметров) : [Учеб. пособие] / Моск. ин-т электрон. машиностроения
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Вильф, Ф. Ж. |
| Опубликовано: | М. : МИЭМ , 1986 |
| Физические характеристики: |
106 с. : ил. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||