|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr38137810000 |
| 005 |
20160303093019.0 |
| 010 |
# |
# |
$d 2 р. 70 к.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [85-100640]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20071004d1985 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 200 |
1 |
# |
$a Точечные дефекты в полупроводниках
$e Эксперим. аспекты
$f Пер. с англ. Ю. М. Гальперина и др.; Под ред. [и с предисл.] В. Л. Гуревича
|
| 210 |
# |
# |
$a М.
$c Мир
$d 1985
|
| 215 |
# |
# |
$a 304 с.
$c ил.
$d 21 см
|
| 300 |
# |
# |
$a Перевод изд.: Point defects in semiconductors / J. Bourgoin, M. Lannoo (Berlin etc., 1983). Библиогр.: с. 9 (19 назв.), 289-297. Предм. указ.: с. 298-300
|
| 345 |
# |
# |
$9 3400 экз.
|
| 610 |
0 |
# |
$a Полупроводники - Дефекты точечные
|
| 675 |
# |
# |
$a 537.311.322:548.4
|
| 700 |
# |
1 |
$a Бургуэн
$b Ж.
$g Жак
|
| 701 |
# |
1 |
$a Ланно
$b М.
$g Мишель
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20071004
$g psbo
|
