Точечные дефекты в полупроводниках: Эксперим. аспекты / Пер. с англ. Ю. М. Гальперина и др.; Под ред. [и с предисл.] В. Л. Гуревича
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Бургуэн, Ж. |
Опубликовано: | М. : Мир , 1985 |
Физические характеристики: |
304 с. : ил. ; 21 см
|
Язык: | Русский |
Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|