Точечные дефекты в полупроводниках: Эксперим. аспекты / Пер. с англ. Ю. М. Гальперина и др.; Под ред. [и с предисл.] В. Л. Гуревича

Сохранено в:
Шифр документа: 94433, 135173,
Вид документа: Книги
Автор: Бургуэн, Ж.
Опубликовано: М. : Мир , 1985
Физические характеристики: 304 с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Предмет:

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 2 , доступно: 2 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
94433 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:3:1:26:11 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал
135173 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:3:1:33:11 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал