Метод эллипсометрии в исследовании параметров тонких пленок и процессов, протекающих в молекулярных системах, адсорбированных на поверхности твердых тел: (01.04.10): Автореф. дис. на ссиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / МГУ им. М. В. Ломоносова, Физ. фак.

Сохранено в:
Шифр документа: 141638/91,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Борщаговский, Е. Г.
Опубликовано: М. , 1991
Физические характеристики: 16 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr37847630000
005 20070831113946.0
021 # # $a RU  $b [91-10277а] 
100 # # $a 20070831d1991 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Метод эллипсометрии в исследовании параметров тонких пленок и процессов, протекающих в молекулярных системах, адсорбированных на поверхности твердых тел  $e (01.04.10)  $e Автореф. дис. на ссиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $f МГУ им. М. В. Ломоносова, Физ. фак. 
210 # # $a М.  $d 1991 
215 # # $a 16 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 16 (11 назв.) 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Борщаговский  $b Е. Г.  $g Евгений Григорьевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070831  $g psbo