Метод эллипсометрии в исследовании параметров тонких пленок и процессов, протекающих в молекулярных системах, адсорбированных на поверхности твердых тел: (01.04.10): Автореф. дис. на ссиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / МГУ им. М. В. Ломоносова, Физ. фак.
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Борщаговский, Е. Г. |
| Опубликовано: | М. , 1991 |
| Физические характеристики: |
16 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||