Исследование электрических свойств и структуры тонких пленок алюминия, никеля, серебра, меди, МЛТ-14, МЛТ-3 и Cr-SiO₂-Al₂O₃: (01.04.07): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Белявский, Н. М. |
| Опубликовано: | Воронеж , 1981 |
| Физические характеристики: |
19 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||