Методы нелинейной оптической рефрактометрии и их применение в квантовой электронике: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук: (05.11.07 ; 01.04.04) / Ленингр. ин-т точной механики и оптики

Сохранено в:
Шифр документа: 1221/86СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Альтшулер, Г. Б.
Опубликовано: Л. , 1985
Физические характеристики: 33 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr36025450000
005 20070808150403.0
100 # # $a 20070808d1985 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Методы нелинейной оптической рефрактометрии и их применение в квантовой электронике  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук  $e (05.11.07 ; 01.04.04)  $f Ленингр. ин-т точной механики и оптики 
210 # # $a Л.  $d 1985 
215 # # $a 33 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 29-33 (56 назв.). Для служеб. пользования 
686 # # $a 05.11.07  $2 oksvnk 
686 # # $a 01.04.04  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Альтшулер  $b Г. Б.  $g Григорий Борисович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070808  $g psbo