Методы нелинейной оптической рефрактометрии и их применение в квантовой электронике: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук: (05.11.07 ; 01.04.04) / Ленингр. ин-т точной механики и оптики
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Альтшулер, Г. Б. |
Опубликовано: | Л. , 1985 |
Физические характеристики: |
33 с.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|