Рентгенографическое исследование тонкой структуры фаз патентированной проволоки: Автореферат дисс., представл. на соискание учен. степени кандидата физ.-матем. наук / Акад. наук УССР. Ин-т физики

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ26915, АЯ10357,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Айзенцон, Е. Г.
Опубликовано: Киев , 1954
Физические характеристики: 12 с. ; 21 см
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr35743920000
005 20070808134921.0
010 # # $d Беспл. 
021 # # $a RU  $b [54-13930] 
100 # # $a 20070808d1954 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Рентгенографическое исследование тонкой структуры фаз патентированной проволоки  $e Автореферат дисс., представл. на соискание учен. степени кандидата физ.-матем. наук  $f Акад. наук УССР. Ин-т физики 
210 # # $a Киев  $d 1954 
215 # # $a 12 с.  $d 21 см 
345 # # $9 100 экз. 
700 # 1 $a Айзенцон  $b Е. Г. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070808  $g psbo