Рентгенографическое исследование тонкой структуры фаз патентированной проволоки: Автореферат дисс., представл. на соискание учен. степени кандидата физ.-матем. наук / Акад. наук УССР. Ин-т физики
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Айзенцон, Е. Г. |
Опубликовано: | Киев , 1954 |
Физические характеристики: |
12 с. ; 21 см
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|