Теоретические основы обеспечения надежности межсоединений интегрированной микроэлектронной аппаратуры в автоматизированном процессе проектирования и изготовления: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук в форме науч. докл.: (05.12.13) / НИИ "Фонон"
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Емельянов, В. М. |
Опубликовано: | М. , 1992 |
Физические характеристики: |
46 с.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|