Основы технологии кремниевых интегральных схем: Окисление, диффузия, эпитаксия / Под ред. Р. Бургера и Р. Донована. Пер. с англ. Под ред. [и с предисл.] канд. физ.-мат. наук В. Н. Мордковича и канд. техн. наук Ф. П. Пресса

Сохранено в:
Шифр документа: АР322580, АУ359262,
Вид документа: Книги
Автор: Донован, Р. П.
Опубликовано: М. : Мир , 1969
Физические характеристики: 451 с. : илл. ; 22 см
Язык: Русский
Предмет:
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr34879940000
005 20070802152202.0
010 # # $b В пер.  $d 2 р. 77 к. 
021 # # $a RU  $b [69-63398] 
100 # # $a 20070802d1969 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Основы технологии кремниевых интегральных схем  $e Окисление, диффузия, эпитаксия  $f Под ред. Р. Бургера и Р. Донована. Пер. с англ. Под ред. [и с предисл.] канд. физ.-мат. наук В. Н. Мордковича и канд. техн. наук Ф. П. Пресса 
210 # # $a М.  $c Мир  $d 1969 
215 # # $a 451 с.  $c илл.  $d 22 см 
300 # # $a Библиогр. а конце глав. Авт. указаны в огл.: Р. П. Донован, А. М. Смит, Б. М. Бэрри. Доп. тит. л.: Fundamentals of silicon integrated device technology. Vol. 1. Oxidation, diffusion and epitaxy 
610 0 # $a Полупроводниковые приборы - Производство 
675 # # $a 621.382.2/.3.002.2+[016.3] 
700 # 1 $a Донован  $b Р. П. 
701 # 1 $a Смит  $b А. М. 
701 # 1 $a Бэрри  $b Б. М. 
702 # 1 $a Бургер  $b Р. М.  $4 340 
702 # 1 $a Мордкович  $b В.  $4 340 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070802  $g psbo