Исследование кристаллической структуры тонких слоев полупроводниковых соединений. A²B⁶: (298): Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук / Моск. энерг. ин-т
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Дмитриев, В. А. |
| Опубликовано: | М. , 1970 |
| Физические характеристики: |
21 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||