Физические аспекты качества и надежности интегральных микросхем / С. Н. Деменин, Е. Ф. Доронкин, И. А. Радзиевский
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Деленин, С. Н. |
Опубликовано: | Киев , 1980 |
Физические характеристики: |
20 с.
|
Язык: | Русский |
Серия: |
Качество и надежность
|
00000nam0a22000001ib4500 | |||
001 | BY-NLB-rr34512540000 | ||
005 | 20070801162822.0 | ||
010 | # | # | $d 5 к. |
021 | # | # | $a RU $b [80-16504] |
100 | # | # | $a 20070801d1980 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a UA |
200 | 1 | # | $a Физические аспекты качества и надежности интегральных микросхем $f С. Н. Деменин, Е. Ф. Доронкин, И. А. Радзиевский |
210 | # | # | $a Киев $d 1980 |
215 | # | # | $a 20 с. |
225 | 2 | # | $a Качество и надежность $f О-во "Знание "УССР |
300 | # | # | $a Библиогр.: с. 20 (11 назв.) |
345 | # | # | $9 180 экз. |
675 | # | # | $a 021.382.049.77 |
700 | # | 1 | $a Деленин $b С. Н. $g Станислав Николаевич |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070801 $g psbo |