Физические аспекты качества и надежности интегральных микросхем / С. Н. Деменин, Е. Ф. Доронкин, И. А. Радзиевский

Сохранено в:
Шифр документа: МД100770,
Вид документа: Книги
Автор: Деленин, С. Н.
Опубликовано: Киев , 1980
Физические характеристики: 20 с.
Язык: Русский
Серия: Качество и надежность
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr34512540000
005 20070801162822.0
010 # # $d 5 к. 
021 # # $a RU  $b [80-16504] 
100 # # $a 20070801d1980 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Физические аспекты качества и надежности интегральных микросхем  $f С. Н. Деменин, Е. Ф. Доронкин, И. А. Радзиевский 
210 # # $a Киев  $d 1980 
215 # # $a 20 с. 
225 2 # $a Качество и надежность  $f О-во "Знание "УССР 
300 # # $a Библиогр.: с. 20 (11 назв.) 
345 # # $9 180 экз. 
675 # # $a 021.382.049.77 
700 # 1 $a Деленин  $b С. Н.  $g Станислав Николаевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070801  $g psbo