Физические аспекты качества и надежности интегральных микросхем / С. Н. Деменин, Е. Ф. Доронкин, И. А. Радзиевский

Сохранено в:
Шифр документа: МД100770,
Вид документа: Книги
Автор: Деленин, С. Н.
Опубликовано: Киев , 1980
Физические характеристики: 20 с.
Язык: Русский
Серия: Качество и надежность

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
МД100770 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:3:4:165 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал