Исследование метода сканирующего светового зонда для выявления дефектов и анализа отказов полупроводниковых приборов: (05.296): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук / Моск. энерг. ин-т

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ197598,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Григорьян, В. Г.
Опубликовано: М. , 1973
Физические характеристики: 19 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr33987860000
005 20070727151130.0
021 # # $a RU  $b [73-332а] 
100 # # $a 20070727d1973 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование метода сканирующего светового зонда для выявления дефектов и анализа отказов полупроводниковых приборов  $e (05.296)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук  $f Моск. энерг. ин-т 
210 # # $a М.  $d 1973 
215 # # $a 19 с. 
300 # # $a Список работ авт.: с. 17-19 (11 назв.) 
686 # # $a 05.296  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Григорьян  $b В. Г.  $g Валерий Григорьевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070727  $g psbo