Исследование метода сканирующего светового зонда для выявления дефектов и анализа отказов полупроводниковых приборов: (05.296): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук / Моск. энерг. ин-т
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Григорьян, В. Г. |
Опубликовано: | М. , 1973 |
Физические характеристики: |
19 с.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|