Электронномикроскопическое исследование дефектной структуры границ сопряжения эпитаксиальных кристаллов: (046): Автореф. дис. на соискание учен. степени канд. техн. наук / Харьк. политехн. ин-т им. В. И. Ленина

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ166626,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Григоров, С. Н.
Опубликовано: Харьков , 1971
Физические характеристики: 20 с. : граф.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr33956080000
005 20070727150621.0
021 # # $a RU  $b [71-18381а] 
100 # # $a 20070727d1971 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Электронномикроскопическое исследование дефектной структуры границ сопряжения эпитаксиальных кристаллов  $e (046)  $e Автореф. дис. на соискание учен. степени канд. техн. наук  $f Харьк. политехн. ин-т им. В. И. Ленина 
210 # # $a Харьков  $d 1971 
215 # # $a 20 с.  $c граф. 
300 # # $a Список работ авт.: с. 19-20 (7 назв.) 
686 # # $a 046  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Григоров  $b С. Н.  $g Сергей Николаевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070727  $g psbo