Электронномикроскопическое исследование дефектной структуры границ сопряжения эпитаксиальных кристаллов: (046): Автореф. дис. на соискание учен. степени канд. техн. наук / Харьк. политехн. ин-т им. В. И. Ленина
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Григоров, С. Н. |
Опубликовано: | Харьков , 1971 |
Физические характеристики: |
20 с. : граф.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr33956080000 | ||
005 | 20070727150621.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [71-18381а] |
100 | # | # | $a 20070727d1971 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a UA |
200 | 1 | # | $a Электронномикроскопическое исследование дефектной структуры границ сопряжения эпитаксиальных кристаллов $e (046) $e Автореф. дис. на соискание учен. степени канд. техн. наук $f Харьк. политехн. ин-т им. В. И. Ленина |
210 | # | # | $a Харьков $d 1971 |
215 | # | # | $a 20 с. $c граф. |
300 | # | # | $a Список работ авт.: с. 19-20 (7 назв.) |
686 | # | # | $a 046 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Григоров $b С. Н. $g Сергей Николаевич |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070727 $g psbo |