Электронномикроскопическое исследование дефектной структуры границ сопряжения эпитаксиальных кристаллов: (046): Автореф. дис. на соискание учен. степени канд. техн. наук / Харьк. политехн. ин-т им. В. И. Ленина
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Григоров, С. Н. |
Опубликовано: | Харьков , 1971 |
Физические характеристики: |
20 с. : граф.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|