Исследование вторичного пробоя в транзисторах и диодах: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук / Новосиб. электротехн. ин-т
Захавана ў:
| Тып дакумента: | |
|---|---|
| Аўтар: | Германский, П. И. |
| Апублікавана: | Новосибирск , 1974 |
| Фізіч. характарыстыкі: |
15 с.
|
| Мова: | Руская |
ОФХ отдела книгохранения
| Усяго : 1 , даступна: 1 | Даступна Замовіць | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||