Основы анализа поверхности и тонких пленок / перевод с английского В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева, под редакцией В. В. Белошицкого
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Фелдман, Л. |
| Опубликовано: | Москва : Мир , 1989 |
| Физические характеристики: |
342 с. : ил. ; 22 см
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||