Исследование процессов кратного рассеяния и каналирования ионов и образования атомов отдачи на поверхности и в тонких кристаллах методом моделирования на ЭВМ: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ-мат. наук: (01.04.04) / МГУ им. М. В. Ломоносова, НИИ ядер. физики
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Умаров, Ф. Ф. |
Опубликовано: | М. , 1992 |
Физические характеристики: |
34 с.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr32588030000 | ||
005 | 20070716150140.0 | ||
100 | # | # | $a 20070716d1992 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Исследование процессов кратного рассеяния и каналирования ионов и образования атомов отдачи на поверхности и в тонких кристаллах методом моделирования на ЭВМ $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ-мат. наук $e (01.04.04) $f МГУ им. М. В. Ломоносова, НИИ ядер. физики |
210 | # | # | $a М. $d 1992 |
215 | # | # | $a 34 с. |
300 | # | # | $a Библиогр.: с. 28-34 (44 назв.) |
686 | # | # | $a 01.04.04 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Умаров $b Ф. Ф. $g Фарид Фахриевич |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070716 $g psbo |