Исследование процессов кратного рассеяния и каналирования ионов и образования атомов отдачи на поверхности и в тонких кристаллах методом моделирования на ЭВМ: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ-мат. наук: (01.04.04) / МГУ им. М. В. Ломоносова, НИИ ядер. физики

Сохранено в:
Шифр документа: 179709/92,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Умаров, Ф. Ф.
Опубликовано: М. , 1992
Физические характеристики: 34 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr32588030000
005 20070716150140.0
100 # # $a 20070716d1992 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование процессов кратного рассеяния и каналирования ионов и образования атомов отдачи на поверхности и в тонких кристаллах методом моделирования на ЭВМ  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ-мат. наук  $e (01.04.04)  $f МГУ им. М. В. Ломоносова, НИИ ядер. физики 
210 # # $a М.  $d 1992 
215 # # $a 34 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 28-34 (44 назв.) 
686 # # $a 01.04.04  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Умаров  $b Ф. Ф.  $g Фарид Фахриевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070716  $g psbo