Исследование процессов кратного рассеяния и каналирования ионов и образования атомов отдачи на поверхности и в тонких кристаллах методом моделирования на ЭВМ: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ-мат. наук: (01.04.04) / МГУ им. М. В. Ломоносова, НИИ ядер. физики
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Умаров, Ф. Ф. |
Опубликовано: | М. , 1992 |
Физические характеристики: |
34 с.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|