Теоретическое исследование точности некоторых методов измерения оптических постоянных и толщины тонких пленок при нормальном падении: [Пер. с англ.]

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ120733,
Вид документа: Книги
Автор: Уард, Л.
Опубликовано: М. : ин-т «Электроника» , 1968
Физические характеристики: 15 с. : черт. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Переводы иностр. литературы. Серия «Контрольно-измерит. аппаратура» Перевод № 20/ЭТ-3046
Предмет:
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr32525860000
005 20070716145247.0
010 # # $d 6 к. 
021 # # $a RU  $b [68-111476] 
100 # # $a 20070716d1968 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Теоретическое исследование точности некоторых методов измерения оптических постоянных и толщины тонких пленок при нормальном падении  $e [Пер. с англ.] 
210 # # $a М.  $c ин-т «Электроника»  $d 1968 
215 # # $a 15 с.  $c черт.  $d 21 см 
225 2 # $a Переводы иностр. литературы. Серия «Контрольно-измерит. аппаратура»  $f М-во электронной пром-сти СССР  $v Перевод № 20/ЭТ-3046 
300 # # $a На обл. авт. не указан 
610 0 # $a Пленки тонкие - Параметры - Измерение 
675 # # $a 621.3.083.8:535 
700 # 1 $a Уард  $b Л. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070716  $g psbo