Теоретическое исследование точности некоторых методов измерения оптических постоянных и толщины тонких пленок при нормальном падении: [Пер. с англ.]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Уард, Л. |
| Опубликовано: | М. : ин-т «Электроника» , 1968 |
| Физические характеристики: |
15 с. : черт. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Переводы иностр. литературы. Серия «Контрольно-измерит. аппаратура»
Перевод № 20/ЭТ-3046 |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||