Разработка и исследование фотоэлектрического метода компарирования штриховых мер длины: (250): Автореферат дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук / Всесоюз. науч.-исслед. ин-т метрологии им. Д. И. Менделеева
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Тришин, Н. В. |
| Опубликовано: | Л. , 1968 |
| Физические характеристики: |
22 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr32323530000 | ||
| 005 | 20070709170152.0 | ||
| 021 | # | # | $a RU $b [68-60823] |
| 100 | # | # | $a 20070709d1968 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Разработка и исследование фотоэлектрического метода компарирования штриховых мер длины $e (250) $e Автореферат дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук $f Всесоюз. науч.-исслед. ин-т метрологии им. Д. И. Менделеева |
| 210 | # | # | $a Л. $d 1968 |
| 215 | # | # | $a 22 с. |
| 686 | # | # | $a 250 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Тришин $b Н. В. |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070709 $g psbo |