Разработка и исследование фотоэлектрического метода компарирования штриховых мер длины: (250): Автореферат дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук / Всесоюз. науч.-исслед. ин-т метрологии им. Д. И. Менделеева
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Тришин, Н. В. |
| Опубликовано: | Л. , 1968 |
| Физические характеристики: |
22 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||