Осциллографические методы измерения параметров полупроводниковых приборов: Учеб. пособие / М-во высш. и средн. спец. образования РСФСР. Моск. ин-т радиотехники, электроники и автоматики. Фак. повышения квалификации

Сохранено в:
Шифр документа: АНД993734,
Вид документа: Книги
Автор: Тихонов, Ю. Н.
Опубликовано: М. , 1977
Физические характеристики: 41 с. : черт.
Язык: Русский

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
АНД993734 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:2:1:17 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал