Осциллографические методы измерения параметров полупроводниковых приборов: Учеб. пособие / М-во высш. и средн. спец. образования РСФСР. Моск. ин-т радиотехники, электроники и автоматики. Фак. повышения квалификации
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Тихонов, Ю. Н. |
Опубликовано: | М. , 1977 |
Физические характеристики: |
41 с. : черт.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|